Tópicos de óptica física y su implementación en la elipsometría
La gran mayoría del material bibliográfico en torno a la elipsometría se centra en artículos, tesis y textos de posgrado, ello conlleva que dichos documentos se encuentren redactados haciendo uso de un lenguaje formal y especializado sobre tema. Por lo tanto, un estudiante de pregrado que desee inic...
- Autores:
- Tipo de recurso:
- Trabajo de grado de pregrado
- Fecha de publicación:
- 2019
- Institución:
- Universidad Distrital Francisco José de Caldas
- Repositorio:
- RIUD: repositorio U. Distrital
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repository.udistrital.edu.co:11349/16114
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/11349/16114
- Palabra clave:
- Elipsometría
Caracterización óptica
Óptica física
Constantes ópticas
Licenciatura en Física - Tesis y disertaciones académicas
Óptica física
Elipsometría
Física del estado sólido
Ellipsometry
Optical caracterization
Physical optics
Optical constants
- Rights
- License
- Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional
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La gran mayoría del material bibliográfico en torno a la elipsometría se centra en artículos, tesis y textos de posgrado, ello conlleva que dichos documentos se encuentren redactados haciendo uso de un lenguaje formal y especializado sobre tema. Por lo tanto, un estudiante de pregrado que desee iniciar un estudio y/o trabajo en este tema, se encontrará con la necesidad de consultar diversas fuentes de referencia, además de comprenderlas y articularlas en pro de su proceso académico. En este contexto surge la iniciativa de elaborar el presente documento, el cual se encuentra redactado y estructurado con el fin de ser un material de referencia auto contenido, el cual permita un primer acercamiento de estudiantes de pregrado en torno a la elipsometría. Dado ello, este documento aborda los principales tópicos de la teoría electromagnética clásica, la física del estado sólido, la óptica física y la óptica matricial, con el fin de dar un sustento teórico/conceptual en los fundamentos y la importancia de la elipsometría, la cual, consiste en una técnica experimental basada en el cambio del estado de polarización de la luz luego de ser reflejada por una superficie, cambio que al ser analizado y modelado permite la caracterización óptica de un material de interés a partir de la determinación de las constantes ópticas dadas por el índice de refracción, la función dieléctrica y la conductividad eléctrica. |
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Herreño Fierro, César AurelioReyes Vega, José Antonio2019-08-26T18:36:02Z2019-08-26T18:36:02Z2019-02-22http://hdl.handle.net/11349/16114La gran mayoría del material bibliográfico en torno a la elipsometría se centra en artículos, tesis y textos de posgrado, ello conlleva que dichos documentos se encuentren redactados haciendo uso de un lenguaje formal y especializado sobre tema. Por lo tanto, un estudiante de pregrado que desee iniciar un estudio y/o trabajo en este tema, se encontrará con la necesidad de consultar diversas fuentes de referencia, además de comprenderlas y articularlas en pro de su proceso académico. En este contexto surge la iniciativa de elaborar el presente documento, el cual se encuentra redactado y estructurado con el fin de ser un material de referencia auto contenido, el cual permita un primer acercamiento de estudiantes de pregrado en torno a la elipsometría. Dado ello, este documento aborda los principales tópicos de la teoría electromagnética clásica, la física del estado sólido, la óptica física y la óptica matricial, con el fin de dar un sustento teórico/conceptual en los fundamentos y la importancia de la elipsometría, la cual, consiste en una técnica experimental basada en el cambio del estado de polarización de la luz luego de ser reflejada por una superficie, cambio que al ser analizado y modelado permite la caracterización óptica de un material de interés a partir de la determinación de las constantes ópticas dadas por el índice de refracción, la función dieléctrica y la conductividad eléctrica.The majority of bibliographic material around ellipsometry are articles, postgraduate theses and texts, this documents are written using a formal and specialized language on the subject. Therefore, an undergraduate student who wishes to initiate a study and / or work on this topic, will find the need to consult various sources of reference, as well as understand and articulate them in pro of their academic process. In this context, arises the initiative in elaborate the present document, which is written and structured in order to be a autocontained reference material, which allows a first approach of undergraduate students around ellipsometry. Given this, this document addresses the main topics of classical electromagnetic theory, solid state physics, physical optics and matrix optics, in order to provide a theoretical / conceptual basis in the fundamentals and the importance of ellipsometry, the which consists of an experimental technique based on the change of the polarization state of the light after being reflected by a surface, a change that when analyzed and modeled allows the optical characterization of a material of interest from the determination of the constants optics given by the refractive index, the dielectric function and the electrical conductivity.pdfspaAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacionalhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/Abierto (Texto Completo)http://purl.org/coar/access_right/c_abf2ElipsometríaCaracterización ópticaÓptica físicaConstantes ópticasLicenciatura en Física - Tesis y disertaciones académicasÓptica físicaElipsometríaFísica del estado sólidoEllipsometryOptical caracterizationPhysical opticsOptical constantsTópicos de óptica física y su implementación en la elipsometríaSubjects of physical optics and their implementation in elipsometryMonografíainfo:eu-repo/semantics/bachelorThesishttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1fTHUMBNAILReyesVegaJoseAntonio2019.pdf.jpgReyesVegaJoseAntonio2019.pdf.jpgIM Thumbnailimage/jpeg6233http://repository.udistrital.edu.co/bitstream/11349/16114/11/ReyesVegaJoseAntonio2019.pdf.jpg2fae1b943ac33d30ae290b5778178657MD511open accessCC-LICENSElicense_urllicense_urltext/plain; charset=utf-846http://repository.udistrital.edu.co/bitstream/11349/16114/7/license_url486e70aa6e7b0271de4953c01c4283fdMD57metadata only accesslicense_textlicense_texttext/html; charset=utf-80http://repository.udistrital.edu.co/bitstream/11349/16114/8/license_textd41d8cd98f00b204e9800998ecf8427eMD58metadata only accesslicense_rdflicense_rdfapplication/rdf+xml; charset=utf-80http://repository.udistrital.edu.co/bitstream/11349/16114/9/license_rdfd41d8cd98f00b204e9800998ecf8427eMD59metadata only accessLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-87163http://repository.udistrital.edu.co/bitstream/11349/16114/10/license.txtda5c6a3ca62d5dd4853000a60fee7083MD510metadata only accessORIGINALReyesVegaJoseAntonio2019.pdfReyesVegaJoseAntonio2019.pdfTrabajo de gradoapplication/pdf11624280http://repository.udistrital.edu.co/bitstream/11349/16114/6/ReyesVegaJoseAntonio2019.pdf62fc23540fa35c60ccceb46a0e8ddd12MD56open access11349/16114oai:repository.udistrital.edu.co:11349/161142023-06-13 15:42:28.311open accessRepositorio Institucional Universidad Distrital - RIUDrepositorio@udistrital.edu.co |