Plasmones superficiales en sistemas multicapas Au/SiO_2 (2018)
En este trabajo se presenta, un estudio experimental de la dependencia angular de la reflectancia de sistemas multicapas en condiciones de reflexión interna total (Configuración de Kretschmann). El crecimiento de las estructuras se lleva acabo en un sistema de ultra alto vacío mediante evaporación con cañón de electrones y evaporador térmico de materiales, el sensor de este último sistema es calibrado mediante un estudio topográfico por microscopia de fuerza atómica. El reflectómetro angular cuenta con un goniómetro automatizado de alta resolución (< 1 mrad), y un láser de 533 nm en polarización TM que ilumina el sistema multicapa a través de un lente cilíndrico. Los resultados permiten caracterizar la evolución, calidad y acoplamiento de las resonancias plasmónicas en función de los parámetros estructurales como espesores y número de capas.