Sensibilidad al entorno dieléctrico de las propiedades plasmónicas del oro (2018)
En este trabajo se presenta un estudio de la sensibilidad al entorno dieléctrico de las resonancias plasmónicas en películas de oro. El sistema consiste en una película de oro de 38 nm de espesor crecida sobre sustrato de vidrio que es iluminada en condiciones de reflexión interna total (Configuración de Kretschmann) con un láser de 533 nm. Sobre el sistema se considera una capa de óxido de silicio (SiO) de espesor variable que simula los cambios en el entorno dieléctrico y permite evaluar el principio de detección reflectométrica. El problema de propagación de la luz en este sistema es tratado con el método de matriz de transferencia, con el que se calcula la reflectancia de la estructura. El análisis aquí descrito consiste en calcular la evolución de la dependencia angular de la reflectancia del sistema como función del espesor del SiO, además los resultados teóricos son contrastados con resultados experimentales y permiten obtener el límite de detección de la estructura. Finalmente se sugiere un modelo de sensibilidad para explicar el corrimiento angular de la reflectancia en este sistema y así cuantificar la sensibilidad de la estructura.