Set de pruebas de las funciones soportadas de los diferentes microcontroladores en el proyecto AIXT.

Debido a la propia naturaleza del proyecto Aixt, es decir, modular y con desarrollo incremental, conforme el avance de los diferentes grupos o subproyectos que se van vinculando progresivamente a este, se presenta actualmente un sobreesfuerzo por parte del docente investigador líder del proyecto, pues debe dejar claro a cada uno de los grupos las mismas pautas de lo que se requiere verificar como mínimo en cada una de las diferentes funciones de los modelos de microcontroladores que van siendo soportados por el proyecto, sin garantizar con esto, que se logre uniformidad en las pruebas o validaciones para verificar el correcto soporte de dichas funciones. La falta de un conjunto de pruebas funcionales establecido puede provocar retrasos en el desarrollo del proyecto Aixt, ya que cada desarrollador tendrá que diseñar y ejecutar sus propias pruebas, lo que puede llevar mucho tiempo y ser propenso a errores. En consecuencia, se hace necesario definir, y, estandarizar un conjunto de pruebas para las diferentes funcionalidades de los microcontroladores que irán siendo soportados con el tiempo, que ayude a la uniformidad, calidad, y, confiabilidad en el proceso y en el propio desarrollo de sistemas basados en microcontroladores, así como también, dinamizar el desarrollo del proyecto Aixt.

• Autores: Triviño Cortes, Johan Sebastian; Tobar Caro, Yair Alexander
• Tipo de recurso: Trabajo de grado de pregrado
• Fecha de publicación: 2024
• Institución: Universidad Distrital Francisco José de Caldas
• Repositorio: RIUD: repositorio U. Distrital
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repository.udistrital.edu.co:11349/93266
• Acceso en línea: http://hdl.handle.net/11349/93266
• Palabra clave: Set; ADC; PWM; Comunicación serial; Entradas; Salidas digitales; Ingeniería Eléctrica por Ciclos Propedéuticos -- Tesis y disertaciones académicas; Reguladores eléctricos; Pruebas de software; Normalización; Set; ADC; PWM; Serial communication; Digital inputs; Outputs
• License: Abierto (Texto Completo)