Diseño y construcción experimental de un sistema de caracterización óptica de materiales a bajas temperaturas
Como es sabido, las propiedades ópticas de los materiales pueden cambiar en función de la temperatura [1,2]. Por tanto, y pensando en la configuración de un laboratorio robusto de caracterización óptica en el Departamento de Física de la Universidad de los Andes, se presenta en este trabajo, el dise...
- Autores:
- Tipo de recurso:
- Trabajo de grado de pregrado
- Fecha de publicación:
- 2018
- Institución:
- Universidad Distrital Francisco José de Caldas
- Repositorio:
- RIUD: repositorio U. Distrital
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repository.udistrital.edu.co:11349/15227
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/11349/15227
- Palabra clave:
- Reflectómetro
Criogenia
Propiedades ópticas
Monocromador
Licenciatura en Física - Tesis y disertaciones académicas
Propiedades ópticas
Criogenia
Ondas electromagnéticas
Luz
Reflectometer
Cryogenics
Optical properties
Monochromator
- Rights
- License
- Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional
Summary: | Como es sabido, las propiedades ópticas de los materiales pueden cambiar en función de la temperatura [1,2]. Por tanto, y pensando en la configuración de un laboratorio robusto de caracterización óptica en el Departamento de Física de la Universidad de los Andes, se presenta en este trabajo, el diseño y construcción de un sistema de caracterización óptica de materiales a bajas temperaturas. En particular, éste consiste en un reflectómetro espectral integrado a un criostato óptico comercial. El sistema construido permite bajar la temperatura hasta 3.7 K y la fuente de luz ofrece un espectro que varía entre 300 a 1100 nm y es filtrada por medio de un monocromador. En el montaje experimental la luz proveniente de una fuente de longitud de onda variable (monocromador) se conduce a través de una fibra óptica y se dirige a una lente colimadora y luego a un polarizador que selecciona un estado de polarización lineal. Luego, el haz es divido por un beam splitter reflejando una fracción del haz incidente hacia un fotodiodo de silicio que detecta la señal de referencia, mientras que la fracción de luz trasmitida se dirige a la muestra a estudiar. La señal reflejada en la muestra es recogida en un segundo fotodiodo idéntico al de referencia. Las señales detectadas son dirigidas a sendos voltímetros interconectados con un PC en donde tiene lugar la adquisición y análisis de datos mediante un programa desarrollado en LabVIEW© (Fig.1). Los recursos económicos para el desarrollo de este proyecto son dados por parte de la Universidad de los Andes. |
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