Influencia en propiedades eléctricas de presión de oxígeno en la preparación de películas delgadas de La2/3Ca1/3MnO3 (2007)
RESUMEN: En este trabajo se presenta el análisis del efecto de la presión de oxígeno en el proceso de crecimiento de películas delgadas de La2/3Ca1/3MnO3 (LCMO), por medio de medidas de resistencia eléctrica en función de la temperatura entre 180 y 295K. Los análisis se hicieron sobre una serie de películas de (LCMO) crecidas sobre sustratos monocristalinos de LaAlO3, empleando un sistema de sputtering con magnetrón DC, manteniendo constante las condiciones de crecimiento. Las muestras fueron sujetas a enfriamiento después de la pulverización bajando la temperatura a razón de 30°C/min hasta temperatura ambiente, variando la presión de oxígeno ( PO2 ) a 2.0, 500, 750, 900 y 1500 Torr. Los resultados muestran que la temperatura de transición metal-aislante (TMI) cambia desde 211 hasta 247K, para las diferentes PO2. Así mismo, se observó la existencia de una PO2 crítica de 750 Torr, donde la TMI es máxima. Por otra parte, la caracterización morfológica realizada sobre las películas de LCMO por medio de microscopía electrónica de barrido (SEM) ha mostrado que las superficies son homogéneas y los microanálisis químicos por medio de energía dispersiva de rayos X (EDX) revelan que los elementos constituyentes de la manganita LCMO se encuentran presentes en las muestras.