Control PID tipo fraccional para la posición del cabezal de una unidad de CD para aplicaciones en microscopia óptica

En este artículo se diseña un control PID tipo fraccional para la posición del cabezal de una unidad de CD que se piensa emplear en el desarrollo de un microscopio óptico motorizado. En dicha aplicación se reemplazará el disco o CD por una placa con la muestra que va a ser estudiada, y se usará el c...

Full description

Autores:
Ortiz Valencia, Paula Andrea
Cardona Rendón, Lorena
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2012
Institución:
Universidad Santo Tomás
Repositorio:
Universidad Santo Tomás
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repository.usta.edu.co:11634/8349
Acceso en línea:
http://revistas.ustabuca.edu.co/index.php/ITECKNE/article/view/88
Palabra clave:
Control de posición, Control Fraccional, Control Robusto, Microscopía óptica, ratón óptico, unidad de CD.
Rights
License
Copyright (c) 2018 ITECKNE
Description
Summary:En este artículo se diseña un control PID tipo fraccional para la posición del cabezal de una unidad de CD que se piensa emplear en el desarrollo de un microscopio óptico motorizado. En dicha aplicación se reemplazará el disco o CD por una placa con la muestra que va a ser estudiada, y se usará el cabezal de la unidad para iluminar la muestra. Con el controlador diseñado se busca que no haya dependencia del subcódigo escrito en un CD para determinar la posición del cabezal, para lo cual se usará un ratón de computador como sensor de posición. También se busca un control que mejore el desempeño del sistema y que sea robusto frente a las incertidumbres en el modelo de la planta, razón por la cual se empleará un control tipo fraccional (PI^λD^μ) y se ajustarán los parámetros K_p, K_i, K_d, λ, μ con cinco especificaciones de robustez. Para la sintonización del control se utiliza la toolbox de optimización de Matlab con la función fmincon. Al final del artículo se presentan los resultados en simulación, se concluye sobre la resolución obtenida, la robustez del controlador y la viabilidad del sistema de control para ser empleado en un microscopio.