Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano

El presente trabajo muestra una técnica para reconstruir el perfil de índice de refracción (PIR) de fibras ópticas, basado en la comparación de los patrones de intensidad del modo de propagación fundamental obtenido experimentalmente y el logrado teóricamente a través del método de elementos finitos, utilizando una función de mérito para ajustar parámetros. Para validar la técnica se aplica a una fibra de núcleo de silicio puro cuyo perfil de índice de refracción ha sido medido por el método de campo cercano refractado (RNF).

• Autores: Castrillón-Gallego, Luis F.
• Tipo de recurso: Article of journal
• Fecha de publicación: 2007
• Institución: Instituto Tecnológico Metropolitano
• Repositorio: Repositorio ITM
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/766
• Acceso en línea: https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/479; http://hdl.handle.net/20.500.12622/766
• Palabra clave: Perfil de índice; fibra óptica; elementos finitos; campo cercano; Index profile; optical fiber; finite elements; near field.
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