Posicionador Automático De Un Portamuestra

Se diseñó e implementó un dispositivo capaz de posicionar muestras de materiales semiconductores de 1 cm2 de superficie, dentro de un plano X y Y y el cual tiene movimientos con una precisión mayor a los 10 m, obteniendo así un gran número de muestras por unidad de superficie. El sistema está const...

Full description

Autores:
Marin Vega, Edgar Andres
Vega Navarro, Hellen Elizabeht
Tipo de recurso:
Trabajo de grado de pregrado
Fecha de publicación:
2005
Institución:
Universidad del Quindío
Repositorio:
Repositorio Universidad del Quindío
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:bdigital.uniquindio.edu.co:001/3612
Acceso en línea:
https://bdigital.uniquindio.edu.co/handle/001/3612
Palabra clave:
Instalación del Sistema de Caracterización Magneto Óptica (CMO)
Entorno LABVIEW
Rights
openAccess
License
Derechos Reservados - Universidad del Quindio
Description
Summary:Se diseñó e implementó un dispositivo capaz de posicionar muestras de materiales semiconductores de 1 cm2 de superficie, dentro de un plano X y Y y el cual tiene movimientos con una precisión mayor a los 10 m, obteniendo así un gran número de muestras por unidad de superficie. El sistema está constituido principalmente por un software de posicionamiento desarrollado bajo el entorno de programación LabView y un dispositivo de control externo, cuyo componente principal es un microcontrolador MotorolaTM de la familia HC08. El dispositivo dispone de 3 modos de operación: manual, automático y barrido automático, dependiendo del desplazamiento que desee el usuario. Cada uno de estos modos de operación, al igual que otras funciones adicionales, están disponibles en un panel de control de fácil acceso al usuario, lo que convierte a este dispositivo en una herramienta útil a la hora de posicionar muestras con gran precisión a muy bajo costo y con la posibilidad de adaptarlo a otras aplicaciones.