Análisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica
En este documento se presentan y analizan los resultados obtenidos al aplicar un instrumento de recolección de información a estudiantes de ingeniería electrónica de la Universidad Francisco de Paula Santander, con el fin de determinar los factores de impacto en las pruebasSaber Pro. En su mayoría,...
- Autores:
-
Castro Casadiego, Sergio
ACEVEDO JAIMES, LEIDY JULIETH
Medina Delgado, Byron
Guevara Ibarra, Dinael
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 2020
- Institución:
- Universidad Francisco de Paula Santander
- Repositorio:
- Repositorio Digital UFPS
- Idioma:
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- Acceso en línea:
- http://repositorio.ufps.edu.co/handle/ufps/830
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- Palabra clave:
- Factores de impacto
ingeniería electrónica
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Factores de impacto ingeniería electrónica pruebas estandarizadas mejoramiento módulos Impact factors electronic engineering standardized tests improvement modules |
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En este documento se presentan y analizan los resultados obtenidos al aplicar un instrumento de recolección de información a estudiantes de ingeniería electrónica de la Universidad Francisco de Paula Santander, con el fin de determinar los factores de impacto en las pruebasSaber Pro. En su mayoría, las opciones de respuesta se encontraron en escala de Likert y se indagó respecto al nivel aptitudinal de los estudiantes, su preparación para las pruebas y el nivel en el que debe mejorarse la preparación de los módulos que se evalúan en la prueba de estado. Se obtuvo información de relevancia para contribuir en la toma de decisiones y el mejoramiento continuo tanto en los procesos de aprendizaje, como en el desempeño de los estudiantes en las pruebas Saber Pro. Con esto, se fortalecen los procesos implementados por el programa académico en pro de la reacreditación del programa académico en alta calidad. |
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Casadiego, S. C., Ibarra, D. G., Jaimes, L. J. A., & Delgado, B. M. (2020). Análisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica. Revista Educación en Ingeniería, 15(30), 1-8. |
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Se obtuvo información de relevancia para contribuir en la toma de decisiones y el mejoramiento continuo tanto en los procesos de aprendizaje, como en el desempeño de los estudiantes en las pruebas Saber Pro. Con esto, se fortalecen los procesos implementados por el programa académico en pro de la reacreditación del programa académico en alta calidad.This document presents and analyzes the results obtained when applying a data collection instrument to electronic engineering students of the Universidad Francisco de Paula Santander, to determine the impact factors in the Saber Pro tests. Most of the answer options were found in Likert scale and it was investigated the students' aptitude level, their preparation for the tests and the level in which the preparation of the modules that are evaluated in the state test should be improved. Relevant information was obtained to contribute to decision making for continuous improvement in both the learning processes and the students' performance in the Saber Pro tests. With this, the processes implemented by the academic program are strengthened for the re-accreditation of the academic program in high quality.08 páginasapplication/pdfspaRevista Educación en IngenieríaColombiaRevista Educación en IngenieríaVol.15 No.30.(2020)830(2020)115Casadiego, S. C., Ibarra, D. G., Jaimes, L. J. A., & Delgado, B. M. (2020). Análisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica. Revista Educación en Ingeniería, 15(30), 1-8.Revista Educación en IngenieríaSe autoriza la reproducción total o parcial de los documentos publicados en la Revista siempre y cuando se cite la fuente y el autor.info:eu-repo/semantics/openAccessAtribución 4.0 Internacional (CC BY 4.0)http://purl.org/coar/access_right/c_abf2https://educacioneningenieria.org/index.php/edi/article/view/1135Análisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería ElectrónicaArtículo de revistahttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1Textinfo:eu-repo/semantics/articlehttp://purl.org/redcol/resource_type/ARTinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85Factores de impactoingeniería electrónicapruebas estandarizadasmejoramientomódulosImpact factorselectronic engineeringstandardized testsimprovementmodulesJ. 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Politécnica, vol. 15, no. 29, pp. 128–140, 2019.ORIGINALAnálisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica.pdfAnálisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica.pdfapplication/pdf749083https://repositorio.ufps.edu.co/bitstream/ufps/830/1/An%c3%a1lisis%20descriptivo%20de%20los%20factores%20de%20impacto%20en%20las%20pruebas%20Saber%20Pro%20de%20estudiantes%20de%20Ingenier%c3%ada%20Electr%c3%b3nica.pdfcb97c849df9f4bdd81e67477ec10d53fMD51open accessLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-814828https://repositorio.ufps.edu.co/bitstream/ufps/830/2/license.txt2f9959eaf5b71fae44bbf9ec84150c7aMD52open accessTEXTAnálisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica.pdf.txtAnálisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica.pdf.txtExtracted 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