Análisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica

En este documento se presentan y analizan los resultados obtenidos al aplicar un instrumento de recolección de información a estudiantes de ingeniería electrónica de la Universidad Francisco de Paula Santander, con el fin de determinar los factores de impacto en las pruebasSaber Pro. En su mayoría,...

Full description

Autores:
Castro Casadiego, Sergio
ACEVEDO JAIMES, LEIDY JULIETH
Medina Delgado, Byron
Guevara Ibarra, Dinael
Tipo de recurso:
Article of journal
Fecha de publicación:
2020
Institución:
Universidad Francisco de Paula Santander
Repositorio:
Repositorio Digital UFPS
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.ufps.edu.co:ufps/830
Acceso en línea:
http://repositorio.ufps.edu.co/handle/ufps/830
https://doi.org/10.26507/rei.v15n30.1135
Palabra clave:
Factores de impacto
ingeniería electrónica
pruebas estandarizadas
mejoramiento
módulos
Impact factors
electronic engineering
standardized tests
improvement
modules
Rights
openAccess
License
Atribución 4.0 Internacional (CC BY 4.0)
Description
Summary:En este documento se presentan y analizan los resultados obtenidos al aplicar un instrumento de recolección de información a estudiantes de ingeniería electrónica de la Universidad Francisco de Paula Santander, con el fin de determinar los factores de impacto en las pruebasSaber Pro. En su mayoría, las opciones de respuesta se encontraron en escala de Likert y se indagó respecto al nivel aptitudinal de los estudiantes, su preparación para las pruebas y el nivel en el que debe mejorarse la preparación de los módulos que se evalúan en la prueba de estado. Se obtuvo información de relevancia para contribuir en la toma de decisiones y el mejoramiento continuo tanto en los procesos de aprendizaje, como en el desempeño de los estudiantes en las pruebas Saber Pro. Con esto, se fortalecen los procesos implementados por el programa académico en pro de la reacreditación del programa académico en alta calidad.