Análisis descriptivo de los factores de impacto en las pruebas Saber Pro de estudiantes de Ingeniería Electrónica

En este documento se presentan y analizan los resultados obtenidos al aplicar un instrumento de recolección de información a estudiantes de ingeniería electrónica de la Universidad Francisco de Paula Santander, con el fin de determinar los factores de impacto en las pruebasSaber Pro. En su mayoría, las opciones de respuesta se encontraron en escala de Likert y se indagó respecto al nivel aptitudinal de los estudiantes, su preparación para las pruebas y el nivel en el que debe mejorarse la preparación de los módulos que se evalúan en la prueba de estado. Se obtuvo información de relevancia para contribuir en la toma de decisiones y el mejoramiento continuo tanto en los procesos de aprendizaje, como en el desempeño de los estudiantes en las pruebas Saber Pro. Con esto, se fortalecen los procesos implementados por el programa académico en pro de la reacreditación del programa académico en alta calidad.

• Autores: Castro Casadiego, Sergio; ACEVEDO JAIMES, LEIDY JULIETH; Medina Delgado, Byron; Guevara Ibarra, Dinael
• Tipo de recurso: Article of journal
• Fecha de publicación: 2020
• Institución: Universidad Francisco de Paula Santander
• Repositorio: Repositorio Digital UFPS
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.ufps.edu.co:ufps/830
• Acceso en línea: http://repositorio.ufps.edu.co/handle/ufps/830; https://doi.org/10.26507/rei.v15n30.1135
• Palabra clave: Factores de impacto; ingeniería electrónica; pruebas estandarizadas; mejoramiento; módulos; Impact factors; electronic engineering; standardized tests; improvement; modules
• Rights: openAccess
• License: Atribución 4.0 Internacional (CC BY 4.0)