Obtención de estructuras de relieve en materiales de registro de haluros de plata

Se registraron rejillas de difracción de transmisión en película AGFA 8E75, tratadas químicamente bajo procesos convencionales con D-19 + ferrocianuro de potasio y una técnica de procesamiento químico desarrollada para película PE-2, para la obtención de franjas con relieve. Las estructuras holográficas fueron medidas topográficamente mediante la técnica de microscopía de fuerza atómica en modo no contacto (AFM-NC) y se observan cambios en las profundidades bajo variaciones en las exposiciones y la fotoquímica utilizada. Se encuentra que el mejor rendimiento en términos de profundidad de relieve obtenido está dado por un proceso tradicional con el cual se alcanzaron profundidades entre 0,15 y 0,3 m para densidades ópticas y frecuencias espaciales bajas. En este trabajo evaluamos la posibilidad de obtener matrices de relieve en haluros de plata para procesos de réplica de hologramas.

• Autores: Giraldo, L.M; Velásquez, D.; Giraldo, L.M; Velásquez, D.
• Fecha de publicación: 2013
• Institución: Universidad EAFIT
• Repositorio: Repositorio EAFIT
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repository.eafit.edu.co:10784/1367
• Acceso en línea: http://hdl.handle.net/10784/1367
• Palabra clave: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM); Rejillas Holográficas; Redes de Bragg; Fotoquímica; Haluros de Plata; Atomic Force Microscopy (AFM); Holographic Gratings; Bragg Gratings; Photochemical Silver Halides; Microscopía de Fuerza Atómica (AFM); Rejillas Holográficas; Redes de Bragg; Fotoquímica; Haluros de Plata
• License: Acceso abierto