Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor

En el desarrollo de este proyecto se logró fundamentalmente fabricar por la técnica de epitaxia en fase líquida y la caracterización por diferentes técnicas de modulación óptica, los materiales propuestos en los objetivos generales y específicos, cuye>s resultados más importantes fueron los sigui...

Full description

Autores:
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2000
Institución:
Ministerio de Ciencia Tecnología e Innovación
Repositorio:
Repositorio Institucional de Minciencias
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.minciencias.gov.co:20.500.14143/50661
Acceso en línea:
https://repositorio.minciencias.gov.co/handle/20.500.14143/50661
Palabra clave:
Proyectos de investigación
Modulación óptica
Películas delgadas -- Investigaciones
Semiconductores
Rights
License
https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
id E-ANAQUEL2_925c59b229ac78f414262516c9bcb005
oai_identifier_str oai:repositorio.minciencias.gov.co:20.500.14143/50661
network_acronym_str E-ANAQUEL2
network_name_str Repositorio Institucional de Minciencias
repository_id_str
spelling Liquid phase epitaxy growth system for semiconductorProyectos de investigaciónModulación ópticaPelículas delgadas -- InvestigacionesSemiconductoresEn el desarrollo de este proyecto se logró fundamentalmente fabricar por la técnica de epitaxia en fase líquida y la caracterización por diferentes técnicas de modulación óptica, los materiales propuestos en los objetivos generales y específicos, cuye>s resultados más importantes fueron los siguientes: Para la región del gap indirecto de Ga1.x AlxAs ( concen:raciones de aluminio por encima del 40%) se obtuvieron resultados de fotoluminiscencia a baja temperatura, donde se demostró la alta calidad cristalina de las capas epitaxiales, y por medio de la técnica de termorreflectancia a temperatura ambiente, se obtuvo el valor de la ee1ergía del gap directo para bajas concentraciones, encontrándose una expresión cuadrática. para la dependencia de energía de la brecha directa conforme aumenta la concentración de . PJ. Se utilizó la técnica de epitaxia en fase líquida para crecer capas de GaAs tipo n dopadas con Sn.Universidad del QuindioColcienciasArmenia2024-02-09T04:10:26Z2024-02-09T04:10:26Z2000-02Informe de investigaciónhttp://purl.org/coar/resource_type/c_18wsTextinfo:eu-repo/semantics/reporthttp://purl.org/redcol/resource_type/INFhttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85http://purl.org/coar/resource_type/c_18ghhttp://purl.org/coar/resource_type/c_93fcapplication/pdfapplication/pdfhttps://repositorio.minciencias.gov.co/handle/20.500.14143/50661spahttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/Atribución 4.0 Internacional (CC BY 4.0)http://purl.org/coar/access_right/c_abf2Ariza Calderón, Hernandooai:repositorio.minciencias.gov.co:20.500.14143/506612024-02-09T04:10:28Z
dc.title.none.fl_str_mv Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
title Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
spellingShingle Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
Proyectos de investigación
Modulación óptica
Películas delgadas -- Investigaciones
Semiconductores
title_short Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
title_full Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
title_fullStr Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
title_full_unstemmed Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
title_sort Liquid phase epitaxy growth system for semiconductor
dc.subject.none.fl_str_mv Proyectos de investigación
Modulación óptica
Películas delgadas -- Investigaciones
Semiconductores
topic Proyectos de investigación
Modulación óptica
Películas delgadas -- Investigaciones
Semiconductores
description En el desarrollo de este proyecto se logró fundamentalmente fabricar por la técnica de epitaxia en fase líquida y la caracterización por diferentes técnicas de modulación óptica, los materiales propuestos en los objetivos generales y específicos, cuye>s resultados más importantes fueron los siguientes: Para la región del gap indirecto de Ga1.x AlxAs ( concen:raciones de aluminio por encima del 40%) se obtuvieron resultados de fotoluminiscencia a baja temperatura, donde se demostró la alta calidad cristalina de las capas epitaxiales, y por medio de la técnica de termorreflectancia a temperatura ambiente, se obtuvo el valor de la ee1ergía del gap directo para bajas concentraciones, encontrándose una expresión cuadrática. para la dependencia de energía de la brecha directa conforme aumenta la concentración de . PJ. Se utilizó la técnica de epitaxia en fase líquida para crecer capas de GaAs tipo n dopadas con Sn.
publishDate 2000
dc.date.none.fl_str_mv 2000-02
2024-02-09T04:10:26Z
2024-02-09T04:10:26Z
dc.type.none.fl_str_mv Informe de investigación
http://purl.org/coar/resource_type/c_18ws
Text
info:eu-repo/semantics/report
http://purl.org/redcol/resource_type/INF
dc.type.coarversion.fl_str_mv http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
dc.type.coar.fl_str_mv http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
http://purl.org/coar/resource_type/c_93fc
dc.identifier.none.fl_str_mv https://repositorio.minciencias.gov.co/handle/20.500.14143/50661
url https://repositorio.minciencias.gov.co/handle/20.500.14143/50661
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.rights.none.fl_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Atribución 4.0 Internacional (CC BY 4.0)
dc.rights.coar.fl_str_mv http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Atribución 4.0 Internacional (CC BY 4.0)
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidad del Quindio
Colciencias
Armenia
publisher.none.fl_str_mv Universidad del Quindio
Colciencias
Armenia
institution Ministerio de Ciencia Tecnología e Innovación
repository.name.fl_str_mv
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1860676492671844352