Specklegramas de fibra óptica analizados mediante procesamiento digital de imágenes

Los sensores basados en el análisis de la distribución de intensidades del patrón de interferencia modal a la salida de una fibra óptica son conocidos como sensores ópticos basados en specklegramas de fibra óptica (Fiber Specklegram Sensors, FSSs). En este trabajo se muestran los specklegramas, simu...

Full description

Autores:
Vélez Hoyos, Francisco Javier
Aristizábal Tique, Víctor Hugo
Gómez López, Jorge Alberto
Quijano Pérez, Jairo Camilo
Herrera Ramírez, Jorge Alexis
Hoyos Sánchez, Alejandro
Da Silva Nunes, Luiz Carlos
Gutiérrez Gutiérrez, Luis Carlos
Castaño Escobar, Luis Fernando
Tipo de recurso:
Investigation report
Fecha de publicación:
2018
Institución:
Universidad Cooperativa de Colombia
Repositorio:
Repositorio UCC
Idioma:
OAI Identifier:
oai:repository.ucc.edu.co:20.500.12494/15419
Acceso en línea:
https://doi.org/10.18257/raccefyn.608
https://hdl.handle.net/20.500.12494/15419
Palabra clave:
Specklegramas de fibra óptica
Perturbaciones físicas
Sensores de fibra óptica
Simulación numérica
Fiber Specklegram Sensors
Physical Perturbations
Optical Fiber sensors
Numerical simulation
Rights
openAccess
License
Atribución – No comercial – Compartir igual
Description
Summary:Los sensores basados en el análisis de la distribución de intensidades del patrón de interferencia modal a la salida de una fibra óptica son conocidos como sensores ópticos basados en specklegramas de fibra óptica (Fiber Specklegram Sensors, FSSs). En este trabajo se muestran los specklegramas, simulados numéricamente mediante el método de los elementos finitos, de una fibra óptica Thorlabs 1550BHP perturbada mecánicamente, y se hace uso de la información global o de regiones del specklegrama mediante el procesamiento digital de imágenes a través de un análisis de correlación. Los resultados muestran como la correlación entre imágenes se puede usar como valor de cuantificación para la medición de fuerzas, y cómo la división del patrón por zonas de interés puede mejorar las características metrológicas del sensor.